文献类型:专著 浏览次数:3
  • 题名:基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
  • 责任者:谢小军著
  • 出版社西安交通大学出版社
  • 出版年:2017.7
  • ISBN:978-7-5605-9902-1
  • 定价:42.00
  • 载体形态项:123页 24cm
  • 个人责任者:谢小军著
  • 学科主题:绝缘材料
  • 中图法分类号:TM21
  • 提要文摘附注:本文针对这两种不同的电介质材料,研究如何准确建立微观结构模型,并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性,分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性,分析相变对于介电特性的影响规律。
  • 统一资源定位(URL):
总体评价(共0票) 评价
索书号 条码号 RFID 年卷期 馆藏地 排架号 书刊状态 流通状态

书籍封面

相关资源

图书馆微博二维码

图书馆微信公众号二维码