文献类型:专著 浏览次数:13
  • 题名:微电子器件封装与测试技术
  • 责任者:李国良, 刘帆编著
  • 出版社清华大学出版社
  • 出版年:2018
  • ISBN:978-7-302-48756-2
  • 定价:38.00
  • 载体形态项:X, 162页 26cm
  • 个人责任者:李国良编著、刘帆编著
  • 学科主题:微电子技术
  • 中图法分类号:TN4
  • 提要文摘附注:本书包含微电子器件封装及检测两个部分, 以操作技术为目的, 图文并茂讲述微电子器件封装及检测操作技术。每个操作环节配二维码链接真实的生产操作视频。
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