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■a978-7-121-30709-6■b精装■dCNY58.00 |
| 100 |
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■achi |
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■aCN■b110000 |
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| 106 |
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■ar |
| 200 |
1_ |
■a主动红外微电子封装缺陷检测技术■d= Active infrared technology for defect i+...... |
| 210 |
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■a北京■c电子工业出版社■d2016.12 |
| 215 |
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■a156页, [8] 页图版■c图■d24cm |
| 225 |
2_ |
■a信息科学与工程系列专著■Axin xi ke xue yu gong cheng xi lie zhuan zhu |
| 314 |
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■a陆向宁, 博士, 江苏师范大学副教授、硕士生导师。 |
| 320 |
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■a有书目 (第146-156页) |
| 410 |
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■12001 ■a信息科学与工程系列专著 |
| 510 |
1_ |
■aActive infrared technology for defect inspection of microe+...... |
| 606 |
0_ |
■a微电子技术■x封装工艺■x缺陷检测■Awei dian zi ji shu |
| 690 |
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■aTN405.94■v5 |
| 701 |
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■a陆向宁■4著■Alu xiang ning |
| 801 |
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■aCN■bGSXY■c20191126 |
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