文献类型:专著 浏览次数:10
  • 题名:电子微组装可靠性设计.基础篇
  • 责任者:工业和信息化部电子第五研究所组编
  • 出版社电子工业出版社
  • 出版年:2020.9
  • ISBN:978-7-121-32181-8
  • 定价:138.00
  • 载体形态项:xvi, 469页 24cm
  • 个人责任者:何小琦编著、恩云飞编著、宋芳芳编著
  • 学科主题:电子元件
  • 中图法分类号:TN605
  • 提要文摘附注:本书介绍了电子微组装可靠性设计方法, 提出了基于失效物理的可靠性设计核心技术链, 包括潜在失效机理分析、可靠性设计指标分解、参数退化及失效时间评估、优化设计分析等关键技术, 系统论述了微组装产品在温度应力、机械应力、潮湿应力、电磁应力下的失效物理模型与可靠性设计。
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