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■a978-7-03-020586-5■b精装■dCNY78.00■z7-03-020586-3 |
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■ar |
| 200 |
1_ |
■a微纳米MOS器件可靠性与失效机理■f郝跃, 刘红侠著■Awei na mi MOS qi jian ke kao x+...... |
| 210 |
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■a北京■c科学出版社■d2008.03 |
| 215 |
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■axiv, 446页■c图■d25cm |
| 225 |
2_ |
■a半导体科学与技术丛书■Aban dao ti ke xue yu ji shu cong shu |
| 300 |
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■a国家科学技术学术著作出版基金资助出版 |
| 320 |
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■a有书目 |
| 330 |
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■a本书主要介绍了微纳米MOS器件的失效机理与可靠性理论，目的是在微电子器件可靠性理论和微电子器件的设计与应用之间建立联+...... |
| 410 |
_0 |
■12001■a半导体科学与技术丛书 |
| 606 |
0_ |
■a纳米材料■x微电子技术■x电子器件■x研究■Ana mi cai liao |
| 690 |
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■aTN4■v4 |
| 701 |
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■a郝跃■4著■Ahao yue |
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■a刘红侠■4著■Aliu hong xia |
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