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■ar |
| 200 |
1_ |
■a微纳米MOS器件可靠性与失效机理■f郝跃, 刘红侠著■Awei na mi MOS qi jian ke kao x+...... |
| 210 |
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■a北京■c科学出版社■d2008.03 |
| 215 |
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■axiv, 446页■c图■d25cm |
| 225 |
2_ |
■a半导体科学与技术丛书■Aban dao ti ke xue yu ji shu cong shu |
| 300 |
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■a国家科学技术学术著作出版基金资助出版 |
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■a有书目 |
| 410 |
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■12001■a半导体科学与技术丛书 |
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■a纳米材料■x微电子技术■x电子器件■x研究■Ana mi cai liao |
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■aTN4■v4 |
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■a郝跃■4著■Ahao yue |
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■a刘红侠■4著■Aliu hong xia |
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