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■a978-7-118-06071-3■dCNY35.00■z7-118-06071-2 |
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■a20090706d2009 em y0chiy50 ea |
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■achi |
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■aak a 000yy |
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■ar |
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1_ |
■a最新集成电路测试技术■f高成, 张栋, 王香芬编著■Azui xin ji cheng dian lu ce shi+...... |
| 210 |
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■a北京■c国防工业出版社■d2009.02 |
| 215 |
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■a290页■c图■d26cm |
| 300 |
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■a其他题名：集成电路测试技术 |
| 320 |
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■a有书目 (第289-290页) |
| 330 |
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■a本书系统介绍了常用集成电路测试的原理、作用、方法、技术，范围涵盖数字集成电路、存储器、模拟集成电路、数字/模拟混合电+...... |
| 517 |
1_ |
■a集成电路测试技术■Aji cheng dian lu ce shi ji shu |
| 606 |
0_ |
■a集成电路■x测试■Aji cheng dian lu |
| 690 |
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■aTN407■v4 |
| 701 |
_0 |
■a王香芬■4编著■Awang xiang fen |
| 701 |
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■a高成■4编著■Agao cheng |
| 701 |
_0 |
■a张栋■4编著■Azhang dong |
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■aCN■bGSXY■c20090706 |
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