| 000 |
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01414nam0 2200301 450 |
| 010 |
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■a978-7-111-52184-6■dCNY59.90 |
| 100 |
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■a20160615d2016 em y0chiy0121 ea |
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1_ |
■achi■ceng |
| 102 |
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■aCN■b110000 |
| 105 |
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■aak a 000yy |
| 106 |
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■ar |
| 200 |
1_ |
■a纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测■f(美) 桑迪普 K.戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编■g续海涛+...... |
| 210 |
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■a北京■c机械工业出版社■d2016.01 |
| 215 |
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■aXIII, 191页■c图■d24cm |
| 225 |
2_ |
■a国际信息工程先进技术译丛■Aguo ji xin xi gong cheng xian jin ji shu yi +...... |
| 312 |
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■a英文题名取自封面 |
| 320 |
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■a有书目 (第184-191页) |
| 330 |
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■a本书分为4个部分: 第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成 (ATPG) ; 第2部分介绍全速测试, 并且提出了+...... |
| 410 |
_0 |
■12001■a国际信息工程先进技术译丛 |
| 500 |
10 |
■aTesting for small-delay defects in nanoscale CMOS integrat+...... |
| 606 |
0_ |
■a纳米材料■xCMOS电路■x缺陷检测■Ana mi cai liao |
| 690 |
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■aTN432■v4 |
| 701 |
_1 |
■a查克拉巴蒂■g(Chakrabarty, Krishnendu)■4主编■Acha ke la ba di |
| 701 |
_1 |
■a戈埃尔■g(Goel, Sandeep K.)■4主编■Age ai er |
| 702 |
_0 |
■a续海涛■4译■Axu hai tao |
| 801 |
_0 |
■aCN■bGSXY■c20160615 |
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■aGSXY■fTN432/G116■g1200571■g1200572 |
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